近来，中国航天科工集团公司二院201所失效剖析研究室 “半导体器材物理特征剖析办法”创造通过了国家专利局的终究审阅，被颁发国家创造专利，标志着201地点仿冒创新元器材辨别剖析技能范畴走在了职业前列，并把握了核心技能的话语权。
“半导体器材物理特征剖析办法”(即PFA)的构成源于失效剖析研究室早在2008年即开端重视的进口半导体器材仿冒创新问题。跟着电子和信息技能的快速开展，包含半导体器材在内的电子元器材更新换代周期变短，导致元器材用户的供应链办理呈现困难，即原规划运用的元器材或许现已停产，特别是对元器材用量少、种类多、牢靠性要求高的部件或整机厂家而言，因为收购量小且有必要通过代理商进行收购，因而给仿冒创新器材供给了进入产业链的时机。如进入军品供应链，则将严重影响配备的质量与牢靠性。因而，辨别所购元器材特别是进口半导体器材是否为防冒创新产品是军品查验不可或缺的重要环节。
失效剖析研究室通过4年时刻的检测剖析经历堆集，使用2年(2012-2013年)时刻对进口器材仿冒创新辨认技能进行了会集研制和攻关。2013年中旬转化为实践技能成果，并创始了“半导体器材物理特征剖析”(PFA)这一技能名词，编写了相应的规范，随即进行了专利申请。2014年，PFA已正式成为二院类型进口元器材质量保证流程中的最前道环节。
本次专利申请的获批也有助于军品元器材检测剖析技能向民品范畴的拓宽推行，未来元器材物理特征剖析技能有望进入船只、轿车、高铁等高牢靠工业电子范畴，以及触及元器材收购合同纠纷的司法鉴定范畴。
